MikroVAL

Erforschung einer digital gestützten Zuverlässigkeitsfreigabe in der Mikroelektronik

Forschende
ForMikro 2.0 – MikroVAL schlägt die Brücke zwischen Grundlagenforschung und industrieller Forschung bei zukünftigen Konzepten zur digitalen Zuverlässigkeitsfreigabe zwischen Integrationsebenen in der Mikroelektronik.© Gorodenkoff - AdobeStock

Motivation

Die Mikroelektronik ist ein Treiber von Innovationen in vielen Branchen und entscheidend für die technologische Souveränität. Um die Elektronikkompetenzen in Deutschland zu stärken, sollen neue Ansätze und kreative Ideen aus den Natur- und Ingenieurwissenschaften für die Mikroelektronik der Zukunft erschlossen werden. Die Initiative „ForMikro 2.0“ intensiviert die Zusammenarbeit zwischen Industrie und Wissenschaft und beschleunigt den Transfer von Ergebnissen aus der Grundlagenforschung in neue Technologien und Anwendungen. Unternehmen beteiligen sich finanziell an den Vorhaben, die das konkrete Nutzungspotenzial für eine perspektivische industrielle Verwertung erarbeiten.

Ziele und Vorgehen

In der Mikroelektronik gibt es verschiedene Ebenen der Integration: die Komponentenebene, die Boardebene und die Baugruppenebene. Das Hauptziel des Vorhabens MikroVAL ist es, eine Simulation zu entwickeln, die es ermöglicht, die wechselseitigen Abhängigkeiten zwischen den Integrationsebenen der Mikroelektronik bei der Zuverlässigkeitsbewertung zu beschreiben. Um dies umzusetzen, müssen zahlreiche Unternehmen entlang der Wertschöpfungskette Daten austauschen während sie gleichzeitig ihr eigenes Know-how und IP schützen müssen. Das Vorhaben soll auch klären, wie dieser Datenaustausch aussehen kann, damit Zuverlässigkeitsaussagen am Ende sowohl valide als auch machbar auf jeder der Integrationsebenen abgeleitet werden können. Um diesen Bedingungen gerecht zu werden, sind aus jeder Integrationsebene Industriepartner assoziiert am Vorhaben beteiligt. Sie definieren Anforderungen und geben Feedback zu den zu entwickelnden Tools.

Innovationen und Perspektiven

Bereits heute lassen sich mithilfe von Modellen mögliche Zuverlässigkeitsprobleme lösen, bevor Prototypen gebaut und getestet werden. Dadurch beschleunigen sich Innovationszyklen und reduzieren sich Entwicklungskosten. Dieses Vorhaben trägt dazu bei, diese Ansätze auch über mehrere Integrationsebenen hinweg umzusetzen.