DGen4Test

Motivation

Die Mikroelektronik ist ein Treiber von Innovationen in vielen Branchen und entscheidend für die technologische Souveränität. Um die Elektronikkompetenzen in Deutschland zu stärken, sollen neue Ansätze und kreative Ideen aus den Natur- und Ingenieurwissenschaften für die Mikroelektronik der Zukunft erschlossen werden. Die Initiative „ForMikro 2.0“ intensiviert die Zusammenarbeit zwischen Industrie und Wissenschaft und beschleunigt den Transfer von Ergebnissen aus der Grundlagenforschung in neue Technologien und Anwendungen. Unternehmen beteiligen sich finanziell an den Vorhaben, die das konkrete Nutzungspotenzial für eine perspektivische industrielle Verwertung erarbeiten.

Ziele und Vorgehen

DRAM sind eine Klasse von Datenspeichern, die vor allem in datenintensiven Anwendungen genutzt werden. Jeder Anwendungsfall hat jedoch spezifische Anforderungen, die von Standard-DRAM nicht unbedingt optimal erfüllt werden. Ziel des Vorhabens DGen4Test ist es, eine automatisierte Designumgebung für das Herzstück eines DRAM, den Controller, zu schaffen. Anhand der Anforderungen einer bestimmten Anwendung soll ein passender, parametrisierter DRAM-Controller entworfen werden. Die Parametrisierung der Controller soll zudem genutzt werden, um ein kostengünstiges Testsystem für anwendungsspezifische DRAM zu erforschen. Im Projekt werden verschiedene DRAM-Controller entworfen, gemeinsam mit der Industrie validiert und virtuell getestet, um die Funktionstüchtigkeit der Entwurfsumgebung und des Testkonzepts zu belegen.

Innovationen und Perspektiven

Das Projekt schafft mit der Entwurfsumgebung erstmalig europäische Software für das Design von anwendungsspezifischen DRAM-Controllern. Dadurch ist die optimale Auslegung und der Test von DRAM mit weniger Ressourcen und Zeit sowie potenziell mit besseren Ergebnissen durchführbar. Dies ermöglicht es auch kleineren Unternehmen, Eigenentwicklungen z. B. in der Edge-Elektronik auf den Markt zu bringen.